首页

>技术资料>应用说明

威思曼扫描电镜高压电源
发布时间:2021-08-26    来源:威思曼    浏览量:3288

电子显微镜


电子显微镜是通过向物体施加电子(电子束)来观察物体的显微镜。在普通显微镜(光学显微镜)中,光(可见光)照射在被观察物体上,反射光被放大后观察物体。然而,电子显微镜在物体上是要电子而不是光。

与可见光相比,电子束具有更短的波形,因此具有更高的分辨率。这是因为它可以检测到无法通过可见光捕获为"差异"的步骤和其他差异。这使得观察工程显微镜无法观察到的非常小的物体成为可能。

根据用途和目的,电子显微镜的种类很多,但大致分为透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)两大类。



sem.png


透射电子显微镜将电子束应用于样品并在放大光下观察透射电子。在投射电子显微镜中,对电子束施加电压并加速穿透物体。因此,只有可以被电子束穿透的薄材料才能用于观察。

扫描电子显微镜在真空中向样品表面施加窄聚焦的电子束,并接收物体发射的电子作为信号。不仅可以获得样品表面不平整的图像,还可以同时获得样品的成分数据。电子显微镜需要高性能电源来产生电子束。

描电子显微镜(SEM)是电子显微镜的一种。通过使用波长比光更短的电子,您可以看到比使用可见光的光学显微镜更精细的图像。

扫描电子显微镜用电子束在真空中变窄的电子束扫描样品,并根据施加电子束的坐标信息构建和显示图像。通常,在入射电子的影响下使用从物体发射的二次电子来获取图像。除了二次电子图像,扫描电子显微镜还可以检测背散射电子、透射电子、X射线、阴极发光、内电动势等,并分析样品成分数据等各种信息。

在扫描电子显微镜中,使用透射电子的称为 STEM(扫描电子显微镜)。在某些情况下,扫描电子显微镜会对样品台施加负偏压以获得清晰的图像。

威思曼拥有一系列可用于电子显微镜的电源。示例:EM ; SEM ; HEM ; EIB ; HSEM.


sem.png


1624673264(1).jpg
EM小文件80%.jpg





20210826093339923.jpg

sem.png